熱老化試驗箱特別適用于光纖、液晶、晶體、電感、印刷電路板、電池、計算機、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。適用電子器件零部件、電氣設備絕緣層材料的耐溫性實(shí)驗、熔融商品的老化測試、評價(jià)和判斷在高溫環(huán)境下貯藏和使用的適應性、樣品在模擬高溫和大氣壓力的空氣中老化后，測定被測試樣其性能與未老化樣品的性能進(jìn)行比較。

　　熱老化試驗箱必須考慮很多因素，否則得出的結論不科學(xué)不客觀(guān)，只有考慮到各種因素，才能指導實(shí)際生產(chǎn)。環(huán)境因素的影響主要體現在以下幾個(gè)方面。

 

　　1、熱老化試驗箱表面污染，濕度，臭氧及其它污染氣體，支架及裝置。那么這些方面又是怎樣的呢？具體內容如下:箱內溫度:在照明階段或停止階段，控制箱內溫度規則的實(shí)驗程序，相關(guān)規范按照設備和部件的預定用途規則在照明階段達到的溫度等級。

 

　　2、首先，接近樣品外觀(guān)的氣流速度不僅影響樣品的加熱，還會(huì )使監測輻射強度的開(kāi)放式溫差電堆出現明顯錯誤。其次，在自然環(huán)境中，呈現強烈的太陽(yáng)輻射和零風(fēng)速的特殊條件的概率極小。

 

　　因此，當需要評估不同風(fēng)速對熱老化試驗箱或元件等樣品的影響時(shí)，應規定具體要求；外觀(guān)污染:灰塵和其他外觀(guān)污染物會(huì )嚴重改變受照物體外觀(guān)的吸收特性，保證樣品在實(shí)驗中的清潔。